本實(shí)驗(yàn)為偏振光學(xué)的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)，包括偏振光的產(chǎn)生、檢驗(yàn)以及特性的研究和重要的應(yīng)用。內(nèi)容涉及調(diào)制偏振光、波片特性研究、相位延遲測(cè)量等多方面的知識(shí)?？勺鳛楣怆姟⒐庑畔?、光學(xué)工程、光電檢測(cè)等專業(yè)的本科或研究生教學(xué)，也可作為科研部件應(yīng)用。調(diào)制偏振光在光學(xué)精密測(cè)量和光學(xué)信息傳遞中具有重要的應(yīng)用價(jià)值，光學(xué)相位延遲測(cè)量系統(tǒng)的研究，可用于光學(xué)延遲器的相位延遲，也可以用于產(chǎn)生任意的光學(xué)相位延遲量。